- Главная
- Разное
- Бизнес и предпринимательство
- Образование
- Развлечения
- Государство
- Спорт
- Графика
- Культурология
- Еда и кулинария
- Лингвистика
- Религиоведение
- Черчение
- Физкультура
- ИЗО
- Психология
- Социология
- Английский язык
- Астрономия
- Алгебра
- Биология
- География
- Геометрия
- Детские презентации
- Информатика
- История
- Литература
- Маркетинг
- Математика
- Медицина
- Менеджмент
- Музыка
- МХК
- Немецкий язык
- ОБЖ
- Обществознание
- Окружающий мир
- Педагогика
- Русский язык
- Технология
- Физика
- Философия
- Химия
- Шаблоны, картинки для презентаций
- Экология
- Экономика
- Юриспруденция
Что такое findslide.org?
FindSlide.org - это сайт презентаций, докладов, шаблонов в формате PowerPoint.
Обратная связь
Email: Нажмите что бы посмотреть
Презентация на тему Сканирующий атомно-силовой микроскоп
Содержание
- 2. Атомно-силовой микроскоп(АСМ, AFM — atomic-force microscope) — сканирующий зондовый микроскоп высокого
- 3. 1981г. Сканирующий туннельный микроскоп - Герд Карл
- 4. Герд Карл БиннигГенрих Рорер
- 5. Принцип работы
- 6. Режимы работы1.Контактный ( contact mode)2.Полуконтактный( semi-contact mode )3.Бесконтактный ( non-contact mode)
- 8. Контактный режим работы атомно-силового микроскопа Остриё кантилевера
- 9. Достоинства метода:Наибольшая, по сравнению с другими методами,
- 10. Бесконтактный режим работы атомно-силового микроскопа При работе
- 11. Достоинства метода:Отсутствует воздействие зонда на исследуемую поверхностьНедостатки
- 12. Полуконтактный режим работы атомно-силового микроскопа При работе
- 13. Достоинства метода:Наиболее универсальный из методов АСМ, позволяющий
- 14. ПрименениеПространственное АСМ-изображение стафилококков при площади сканирования 12×12 мкм2.
- 15. Современные АС микроскопыCertus Optic U - интегрированные
- 16. Скачать презентацию
- 17. Похожие презентации
Атомно-силовой микроскоп(АСМ, AFM — atomic-force microscope) — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения. Используется для определения рельефа поверхности с разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного. В отличие от сканирующего туннельного микроскопа, с помощью атомно-силового микроскопа можно исследовать как проводящие, так и
Слайд 2
Атомно-силовой микроскоп
(АСМ, AFM — atomic-force microscope) — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения.
Слайд 3
1981г. Сканирующий туннельный микроскоп - Герд Карл Бинниг и Генрих
Рорер из лаборатории IBM в Цюрихе (Швейцария)
1982г. Атомно-силовой микроскоп
-Герд Бинниг, Кельвин Куэйт и Кристофер Гербер в США,
как модификация изобретённого ранее сканирующего туннельного микроскопа.История
Слайд 6
Режимы работы
1.Контактный
( contact mode)
2.Полуконтактный
( semi-contact mode )
3.Бесконтактный
( non-contact mode)
Слайд 8
Контактный режим работы атомно-силового микроскопа
Остриё кантилевера находится в
непосредственном контакте между образцом и поверхностью. Сканирование осуществляется, как правило,
в режиме постоянной силы, когда система обратной связи поддерживает постоянной величину изгиба кантилевера. Изгиб консоли ΔZ, пропорциональный силе, действующей на зонд со стороны поверхности записывается для каждой точки. Изображение в таком режиме представляет собой пространственное распределение силы взаимодействия зонда с поверхностью.
Слайд 9
Достоинства метода:
Наибольшая, по сравнению с другими методами, помехоустойчивость
Наибольшая
достижимая скорость сканирования
Обеспечивает наилучшее качество сканирования поверхностей с резкими
перепадами рельефаНедостатки метода:
Наличие артефактов, связанных с наличием латеральных сил, воздействующих на зонд со стороны поверхности
При сканировании в открытой атмосфере (на воздухе) на зонд действуют капиллярные силы, внося погрешность в определение высоты поверхности
Практически непригоден для изучения объектов с малой механической жёсткостью (органические материалы, биологические объекты)
Слайд 10
Бесконтактный режим работы атомно-силового микроскопа
При работе в бесконтактном
режиме пьезовибратором возбуждаются колебания зонда на некоторой частоте (чаще
всего, резонансной). Сила, действующая со стороны поверхности, приводит к сдвигу амплитудно-частотной и фазово-частотной характеристик зонда, и амплитуда и фаза изменяют значения. Система обратной связи, как правило, поддерживает постоянной амплитуду колебаний зонда, а изменение частоты и фазы в каждой точке записывается. Однако возможно установление обратной связи путём поддержания постоянной величины частоты или фазы колебаний.
Слайд 11
Достоинства метода:
Отсутствует воздействие зонда на исследуемую поверхность
Недостатки метода:
Крайне
чувствителен ко всем внешним шумам
Наименьшее латеральное разрешение
Наименьшая скорость сканирования
Функционирует
лишь в условиях вакуума, когда отсутствует адсорбированный на поверхности слой водыПопадание на кантилевер во время сканирования частички с поверхности образца меняет его частотные свойства и настройки сканирования "уходят"
В связи с множеством сложностей и недостатков метода, его приложения в АСМ крайне ограничены.
Слайд 12
Полуконтактный режим работы атомно-силового микроскопа
При работе в полуконтактном
режиме также возбуждаются колебания кантилевера. В нижнем полупериоде колебаний
кантилевер касается поверхности образца. Такой метод является промежуточным между полным контактом и полным бесконтактом.
Слайд 13
Достоинства метода:
Наиболее универсальный из методов АСМ, позволяющий на
большинстве исследуемых образцов получать разрешение 1-5 нм
Латеральные силы, действующие
на зонд со стороны поверхности, устранены - упрощает интерпретацию получаемых изображенийНедостатки метода:
Максимальная скорость сканирования меньше, чем в контактном режиме
Слайд 14
Применение
Пространственное АСМ-изображение стафилококков при площади сканирования 12×12 мкм2.
Слайд 15
Современные АС микроскопы
Certus Optic U - интегрированные атомно-силовой
